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晶圆芯片外观自动检测AOI
彤光晶圆芯片外观AOI设备利用CCD成像技术，采集芯片正反面图像，再利用彤光WFVS软件系统并集成AI智能学习模块对相机采集到的图像进行分析，模拟人眼的视觉特性，自动多方位检测芯片上的缺陷。
晶圆芯片外观AOI设备应用范围广，成功应用于tvs，晶闸管，miniLED芯片，microLED芯片，IGBT芯片，整流二极管等外观缺陷检测。
业务联系：刘生15007696589
电 话：0769-22010186
邮 箱：sales@tongontech.cn
网 址：http://www.tongontech.cn
地 址：广东省东莞市东城街道立新军民路5号1-2栋
 | 说明: 1、AOI根据芯片的检测结果自动生成MAP如图 2、MAP读取格式为wafermap，生成的MAP格式，包含有图片，txt和xml 3、不同NG类别可输出不同bin的要求 （map图片颜色区别)，同时可输出检验清单，包含不良分bin统计的数量 4、还可以根据客户的MAP格式要求修订MAP的内容 |
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